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光学测量系统

ZEISS O-INSPECT 322

o-inspect 332O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身,因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备,O-INSPECT一机即可胜任。


配置

. Discovery远心变焦镜头
. 自适应照明系统
. VAST XXT扫描探头
. 测针架
. 标准球

选项

含玻璃托盘和网格托盘的上料系统
校准托盘

软件

CALYPSO
测量范围(in mm)

X Y Z
3/2/2 300 200 200

长度测量误差E0

自1.6+L/200μm起

可配置的探头

VAST XXT
Viscan

可选用的软件

calypso

蔡司测量解决方案

CardioBridge

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